取消
清空記錄
歷史記錄
清空記錄
歷史記錄
顯微紅外光譜儀測(cè)量到微米級(jí)別的樣品,電子器件表面的微小污染和以為及微米級(jí)樣品的材料通過顯微紅外測(cè)量得到的紅外光譜圖可以進(jìn)行鑒別和結(jié)構(gòu)解析等研究。
布魯克紅外光譜儀INVENIO和顯微紅外光譜儀HYPERION聯(lián)用可以實(shí)現(xiàn)更深入的微米級(jí)樣品的測(cè)量和研究
淘儀科技攜手布魯克光譜為您提供微米級(jí)異物的整體解決方案,助力污染、異物、微塑料等樣品的檢測(cè)和研究。