取消
清空記錄
歷史記錄
清空記錄
歷史記錄
近紅外是發(fā)現(xiàn)*早的非可見光區(qū)域,近紅外主要是對含氫基團X-H(X=C、N、O)振動的倍頻和合頻吸收。不同種類的有機物對近紅外光譜的不同波段有著不同程度的吸光度或透過率,這意味著不同化合物的光譜圖形狀是不同的。同時,濃度的高低也會影響吸光度或透過率,符合朗伯比爾定律。因此,通過收集大量已知性質(zhì)的樣品光譜數(shù)據(jù),可以建立起光譜數(shù)據(jù)與樣品性質(zhì)之間的關(guān)聯(lián)模型。近紅外光譜分析技術(shù)具有對物質(zhì)反饋的靈敏度高、傳遞的信息快,且在檢測樣品時無前處理、無污染、方便快捷等優(yōu)點。近紅外光譜(NIRS)是一種強大的分析技術(shù),在食品、制藥、環(huán)境監(jiān)測、農(nóng)業(yè)等各個領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。
近年來,近紅外光譜技術(shù)在**產(chǎn)業(yè)的應(yīng)用取得突破性的進展,許多研究成果實現(xiàn)了應(yīng)用近紅外光譜技術(shù)對**特定的原料化學(xué)成分、外加添加劑、成品等的建模分析及應(yīng)用。近紅外光譜技術(shù)在不同行業(yè)中的多樣化應(yīng)用,證明了NIR光譜學(xué)在為各種應(yīng)用提供精確高效分析解決方案方面具有較大的潛力。
以玉溪K326**原料9個不同目數(shù)粒徑粉體樣本作為研究對象,通過采集不同煙粉粒徑的近紅外光譜信息,建立不同煙粉粒徑的近紅外光譜預(yù)測模型,同時結(jié)合特征波長變量**算法簡化模型,為后續(xù)不同**原料粒徑快速檢測提供了一種快速鑒別分析的方法,同時可監(jiān)測原料磨粉粒徑過程中質(zhì)量的穩(wěn)定性。
**粉末粒徑檢測
煙粉粒徑(NIR)近紅外儀器參數(shù)
煙粉粒徑(NIR)近紅外數(shù)據(jù)采集
煙粉粒徑近紅外建模方法
煙粉粒徑分布模型驗證
不同粒度下光譜特性模型分析
可以看出,不同的煙粉粒徑在3500~5500cm-1區(qū)間有吸收峰,5000cm-1左右峰較低且范圍較寬,4000cm-1時峰較為陡峭。不同粒度下的煙粉呈現(xiàn)出不同的吸收強度。
不同粒度下光譜特性分析模型優(yōu)化
偏移量:5.468維數(shù):1;R2=83.16;RMSECV=15.3;偏移:0.0211;斜率:0.861;相關(guān)系數(shù):0.9124
從不同目數(shù)超微粉粒徑模型真值和預(yù)測值的線性原始關(guān)系圖可以看出,模型的決定系數(shù)R2、RMSECV均不理想,相關(guān)系數(shù)R2為0.9124,均方根誤差RMSECV為15.3,維數(shù)為1。此模型部分數(shù)據(jù)點偏離擬合線且大于3倍平均偏差,表示預(yù)測值與真實值偏差較大,需不斷進行內(nèi)部交叉檢驗,剔除異常數(shù)據(jù),直至模型檢驗顯示通過,得到線性關(guān)系圖。
偏移量:0.300;維數(shù):5;R2=98.77;RMSECV=3.28;偏移:0.0326;斜率:0.989;相關(guān)系數(shù):0.9938
從不同目數(shù)超微粉粒徑模型真值和預(yù)測值的線性校正關(guān)系圖可以看出,模型的決定系數(shù)R2、RMSECV均比較理想,相關(guān)系數(shù)R2為0.9938,均方根誤差RMSECV為3.28,維數(shù)為5,殘留偏差為9。
不同粒度下光譜特性分析模型驗證
不同目數(shù)煙粉粒徑檢測真值和預(yù)測值
總結(jié)
(2)通過偏*小二乘法(PLS)建立預(yù)測不同粒徑超微粉體的近紅外分析模型,相關(guān)系數(shù)大于0.9,殘留偏差大于2,表明模型適用于不同粒徑的超微粉體的快速分析。
(3)采用近紅外檢測方法對不同粒度煙粉進行建模、檢測、驗證。結(jié)果表明,近紅外測定模型的預(yù)測值與實際粒徑值數(shù)據(jù)之間無明顯差異,預(yù)測精確度高。