實(shí)時檢測生產(chǎn)過程的重要指標(biāo)參數(shù)，以便于對反應(yīng)進(jìn)行監(jiān)測和控制；

• 如今，光譜分析已成為一項(xiàng)非常重要的在線過程監(jiān)控與優(yōu)化的技術(shù)。通過光纖連接探頭的檢測方式，可以直接監(jiān)控生產(chǎn)過程，而不存在時間延遲。

• MATRIX-F II傅立葉變換近紅外光譜儀可以對反應(yīng)釜和生產(chǎn)管道進(jìn)行直接測量，讓您更好地理解和控制生產(chǎn)過程。其創(chuàng)新型技術(shù)，提供了高度一致的

測量結(jié)果、減少了停機(jī)時間，并實(shí)現(xiàn)模型方法的直接轉(zhuǎn)移。布魯克的所有在線光譜儀都具有臺間差小、長期穩(wěn)定性和低維護(hù)成本的特點(diǎn)。

• 已有數(shù)千臺儀器的安裝和使用，分布于化工、石化、聚合物和制藥行業(yè)的生產(chǎn)過程中，以及食品和飼料的制造領(lǐng)域，這些都是我們豐富經(jīng)驗(yàn)的有力

證明。

FT-NIR生產(chǎn)過程監(jiān)控

  如今，許多制造商不*力求生產(chǎn)出具有**品質(zhì)的成品，還力圖通過將實(shí)驗(yàn)室的成品質(zhì)量分析技術(shù)轉(zhuǎn)移到生產(chǎn)過程中，從而來改進(jìn)生產(chǎn)效率。通過加大對生產(chǎn)過程的控制力度，制造商將有望優(yōu)化物料利用，減少甚至消除不合格批次的產(chǎn)生，從而節(jié)約再加工或報廢處理的成本。使用在線MATRIX-F II傅立葉變換近紅外光譜的關(guān)鍵優(yōu)勢在于：

數(shù)秒內(nèi)即可獲得精確的在線結(jié)果

• 無損、多組分同時分析

• 內(nèi)置6通道多路器

• 模型直接轉(zhuǎn)移

• CMET  協(xié)議如下: 支持各種通訊協(xié)議，布魯克提供的通訊堅(jiān)固耐用、低維護(hù)設(shè)計(jì)

• 干涉儀活動部件和固體激光器的10年質(zhì)保

• 適用于防爆危險區(qū)

• 以太網(wǎng)連接并支持工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通信協(xié)議

光纖優(yōu)勢

FT-NIR分析技術(shù)的實(shí)時在線監(jiān)測的優(yōu)勢已眾所周知。然而，傳統(tǒng)的光譜儀只能安裝在監(jiān)測生產(chǎn)線附近，這意味著分析儀會長期工作在危險環(huán)境中，例如，極端的溫度變化、高濕、粉塵和污垢。更重要的是，有時測量點(diǎn)很難放置儀器，這些往往位于防爆危險區(qū)。利用光纖技術(shù)，MATRIX-F II可與測量點(diǎn)相距數(shù)百米，例如，當(dāng)環(huán)境條件有要求時，可以把儀器裝在空調(diào)室內(nèi)。這消除了極端的溫度變化，可進(jìn)一步確保光譜儀的性能，還可以防止免于過度的灰塵和污垢。

布魯克可結(jié)合客戶的需求，為各種在線監(jiān)測分析條件，提供完整的定制化解決方案

MATRIX-F II傅立葉變換 近紅外光譜儀可連接多達(dá) 6個光纖探頭或非接觸式 探頭。

MATRIX-F II 系列：一臺光譜儀，多種選擇

是目前**一款*憑一臺儀器，就可以對物料進(jìn)行接觸式測量和非接觸式測量的FT-NIR光譜儀。

MATRIX-F II：經(jīng)典的FT-NIR光譜儀，通過光纖連接流通池 和插入式探頭，用于固體和液體測量。

MATRIX-F II系列有不同的測量附件可供使用：

光纖探頭：

MATRIX-F II適配經(jīng)典的漫反射探頭、透反射探頭或具有各種光程長度的插入式透射探頭，以及在線流通池或相關(guān)的試驗(yàn)附件。有多種探頭材質(zhì)可供選擇，例如，不銹鋼或哈氏合金。此外，探頭還可以根據(jù)不同的長度和法蘭幾何尺寸進(jìn)行定制。

用于非接觸式的測量探頭：

非接觸式探頭內(nèi)置了鎢光源，可以照射樣本；并將收集的漫反射光通過光纖傳輸至光譜儀。通過這種方式，就可以遠(yuǎn)程進(jìn)行非接觸式測量，實(shí)現(xiàn)一系列全新應(yīng)用。

標(biāo)準(zhǔn)版本的MATRIX-F II可以適配各種不同的光纖探頭，并**用于反應(yīng)釜、管道或旁路內(nèi)的在線過程監(jiān)測。它提供光纖連接，可連接多達(dá)6個流通池或探頭，以進(jìn)行接觸式的液體和固體測量。

在非接觸式測量方面，布魯克設(shè)計(jì)了MATRIX-F II emission，它利用連接的非接觸式探頭，用于在線測量傳送帶上的固體樣品，或通過視窗測量固體樣品。

MATRIX-F II duplex是MATRIX-F II和MATRIX-F II emission的組合。其檢測光路可以在內(nèi)部近紅外光源和外部近紅外光源之間切換，為客戶提供了充分的靈活性。憑借這兩個選項(xiàng)，MATRIX-F II duplex成為了市面上

**一款*憑一臺儀器就可以進(jìn)行接觸式測量和非接觸式測量的近紅外分析光譜儀。

MATRIX-F II emission：特別版MATRIX-F II光譜儀，通過 光纖連接漫反射探頭，*用于非接觸式測量。

面向工業(yè)4.0的智能分析儀

借助可選的集成式PC和內(nèi)置式通迅模塊，MATRIX-F II可以成為一款智能分析儀，這減少了安裝工作，實(shí)現(xiàn)了堅(jiān)固耐用的7*24全天候的過程監(jiān)測。再加上CMET軟件解決方案，MATRIX-F II可以通過物聯(lián)網(wǎng)（IoT）接口，提供許多額外的設(shè)備參數(shù)，以用于狀態(tài)監(jiān)控 。

MATRIX-F II duplex：經(jīng)典MATRIX-F II 傅立葉變換近紅外 光譜儀的擴(kuò)展版本，可同時連接接觸式探頭和非接觸探頭

附件 

-浸入式探頭

浸入式探頭是在FT-NIR過程質(zhì)量控制領(lǐng)域*為**常用的一種探頭。布魯克將協(xié)助您配置與工藝條件*為匹配的探頭材質(zhì)。在很多案例中，設(shè)備或反應(yīng)釜都已經(jīng)配備了用于連接這種插入式探頭的標(biāo)準(zhǔn)接口。根據(jù)測量原理，浸入式探頭可分為三類：透射探頭：用于透明液體反透射探頭：用于固體物料反射探頭：用于懸浮液或乳液插入式探頭有不同類型的光纖可供選擇。標(biāo)準(zhǔn)的透射探頭使用單束光纖；透反射探頭和反射探頭通常使用光纖束，用來引導(dǎo)近紅外光信號從光譜儀端的輸出和輸入。光纖探頭在光傳輸和光程精確方面，具有極高的一致性?；谀撤N類型探頭定標(biāo)的模型，無需對數(shù)據(jù)進(jìn)行任何操作，就可以將模型直接傳遞到相同類型探頭的系統(tǒng)中。

透射探頭，帶有法蘭接口 （選配），用于測量透明 液體（照片來源: Analytics）。

漫反射探頭，用于在漫反射 測量固體、漿液和不透明 的液體（照片來源：Solvias  AG）。

-流通池

除了插入式探頭，流通池也在過程控制領(lǐng)域廣為使用，可以直接安裝在管道或旁路中，這樣可以讓樣品流經(jīng)流通池測量。這些流通池的尺寸各不相同，適用于不同直徑的管道。流通池只能用于透射測量：光源發(fā)出的近紅外光經(jīng)過光纖傳導(dǎo)至樣品，并穿透樣品，然后被準(zhǔn)直儀收集起來，然后進(jìn)入通過另一根光纖，傳輸回儀器檢測器。流通池兩端的光纖通常采用固定光程定位器來固定的。因此，在更換或清潔流通池后，可以重新精確地安裝好流通池，這樣模型可以直接從一個測量點(diǎn)轉(zhuǎn)移到另一個測量點(diǎn)。布魯克可根據(jù)客戶的需求，提供各種流通池。

透反射探頭，用于測量懸濁 液體（例如，發(fā)酵過程）、漿 液或乳液（例如，各種類型 的牛奶和奶油）。

安裝在管道或旁路上的流 通池（照片來源：Solvias  AG）。

用于非接觸式測量的探頭 

近紅外非接觸式探頭由布魯克設(shè)計(jì)，采用漫反射方式對移動的固體物料 進(jìn)行非接觸式測量。與傳統(tǒng)的反射探頭相比，非接觸式探頭具有以下優(yōu)勢： 兩個近紅外光源的照射光斑直徑約10mm——是傳統(tǒng)漫反射探頭的 10倍以上。 為保障過程檢測的持續(xù)性，非接觸式探頭可以在單光源模式下運(yùn)行。 如果其中一個光源發(fā)生故障，則自動**第二個光源，以便進(jìn)行連續(xù) 的過程測量。 單 束成本很高。 束光纖就可以將光信號傳輸回光譜儀，而傳統(tǒng)反射探頭采用的光纖 與大多數(shù)固體探頭相比，非接觸式探頭內(nèi)置了參考鍍金塊，可以自動隨 時進(jìn)行背景測量，停止運(yùn)行進(jìn)行手動背景采集。 大光斑的測量方式，降低了顆粒尺寸不均勻的影響，使其成為測量不均勻 物料（例如，食品和飼料成分、聚合物顆?；驖{料）的理想選擇。 

非接觸探頭可以輕松安裝在管道或設(shè)備上自帶的觀察視窗的前面，或通過 專門設(shè)計(jì)的焊接式法蘭接口直接安裝。它還可以安裝在傳送帶上方，用于 測量移動的物料。 借助MATRIX-F II的內(nèi)部光學(xué)多路器，一臺光譜儀可以連接多達(dá)6個探頭。 這極大地降低了對每個測量點(diǎn)的投資。采用的是傅立葉變換技術(shù)，而價格 卻和不同技術(shù)水平的光柵型或?yàn)V光片型儀器相當(dāng)。 

放在實(shí)驗(yàn)室支架上進(jìn)行離 線測量的非接觸式探頭

非接觸式探頭安裝在設(shè)備視窗前

效用**化 

布魯克開發(fā)了多種附件，旨在推進(jìn)傳感器頭在*為嚴(yán)苛的環(huán)境下的安裝。 對于溫度可能高達(dá)75°C的區(qū)域，可以使用高溫版探頭；   布魯克開發(fā)了多種附件，旨在推進(jìn)傳感器頭在*為嚴(yán)苛的環(huán)境下的安 裝。 對于多塵區(qū)域，使用空氣吹掃組件（選配）可防止測量窗口被污染；   布魯克開發(fā)了多種附件，旨在推進(jìn)傳感器頭在*為嚴(yán)苛的環(huán)境下的安 裝。 對于會振動的設(shè)備（例如，篩子），可以使用**的橡膠護(hù)套等柔性連接 來降低震動影響。 此外，布魯克還可根據(jù)客戶的要求進(jìn)行定制化的設(shè)計(jì)，來適應(yīng)視窗或管道 上的安裝。

非接觸式探頭的柔性連接 方式，安裝了橡膠護(hù)套和觀 察窗，可以保持測量區(qū)域的 清潔，避免灰塵和污垢

吹掃功能（選配），防止測 量窗口結(jié)垢（例如，因靜電 吸附灰塵）。

在線近紅外工業(yè)機(jī)柜 

MATRIX-F II及其工業(yè)PC的外形設(shè)計(jì)等，可以輕 松放置在19英寸的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜內(nèi)，這個非常適和 用于在線分析儀機(jī)柜。 以下場合推薦使用機(jī)柜： 出現(xiàn)溫度波動 儀 高濕度環(huán)境 器專人專管 帶空調(diào)的機(jī)柜可以在內(nèi)部維持恒定的溫度和濕 度，因此，即使外部條件波動，也能確保進(jìn)行穩(wěn) 定的測量。 布魯克提供兩種不同尺寸的機(jī)柜。尺寸較大的 機(jī)柜為MATRIX-F II及外部6端口多路器和帶 TFT顯示器的工業(yè)PC提供了充足的空間。 尺寸較小的機(jī)柜為密閉空間設(shè)計(jì)，可容納一臺 MATRIX-F II。

多路器 

MATRIX-F II光譜儀有單通道或6通道可供選擇。 只需一臺光譜儀，就可測量多達(dá)6個測量點(diǎn)，從 而降低投資成本。光纖探頭通過標(biāo)準(zhǔn)的SMA接 口，連接到光譜儀。

時實(shí)時檢測生產(chǎn)實(shí)時檢測生產(chǎn)過程 的重要指標(biāo)參數(shù)，以 便于對反應(yīng)進(jìn)行

較小版本的19英寸在線分 析儀機(jī)柜，用于MATRIX-F  II光譜儀

通道以藍(lán)色 通道多路器：當(dāng)前運(yùn)行的 LED顯示

較大版本的過程分析儀機(jī) 柜，頂部配有空調(diào)系統(tǒng)和一 臺帶TFT顯示器的工業(yè)PC

防爆危險區(qū)解決方案

MATRIX-F II經(jīng)認(rèn)證，可將近紅外光傳輸?shù)揭韵挛ｋU區(qū)：

Ex II(1) G [Ex op is IIC T4 Ga] 

Ex II(1) D [Ex op is IIC Da] 

根據(jù)整個系統(tǒng)的哪一部分必須被放在危險場所， 其改造可包含以下變動：

• 在危險場所，通過光纖進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。 

• 使用干燥空氣或氮?dú)鈱庾V儀的內(nèi)部光學(xué)腔 進(jìn)行吹掃和加壓。

• 所有表面材料（光纖、電纜等）都必須符合靜電 放電的防爆要求。

MATRIX-F EX 

MATRIX-F 還提供經(jīng)ATEX認(rèn)證的防爆版本，符合以下標(biāo)準(zhǔn)；

II 2(1) G Ex pxb [op is T4 Ga] IIC T6 Gb

帶加壓外殼的 EX，可直接置于防爆危 MATRIX-F  險區(qū)

用于防爆危險區(qū)非接觸式漫反射探頭

與MATRIX-F II組合使用時，非接觸探頭也可提 供防爆版本（ATEX/IECEx和AEx）。它符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

ATEX

II 2(1) G Ex d [op is T6 Ga]

IIC T6 Gb II 2(1) D Ex tb [op is T85°C Da] IIC  T85°C Db  

UL認(rèn)證

I類，1區(qū)，AEx d [op 是 T6] IIC T6 

21區(qū)，AEx tb [op 是 T85°C] IIIC T85°C  

憑借我們的防爆認(rèn)證系統(tǒng)，布魯克可為您在危險 環(huán)境中的特定需求，提供量身定制的解決方案。

防爆的非接觸式探頭，連接 到標(biāo)準(zhǔn)MATRIX-F光譜儀

監(jiān) 測和控制過程 的重要指

CMET過程軟件 

CMET過程軟件是布魯克出色的FT-NIR過程分析儀和客戶分布式控制系 統(tǒng)（DCS）之間的紐帶。DCS發(fā)出的命令被傳輸?shù)紺MET，CMET開始執(zhí)行 指定的測量，并將數(shù)據(jù)傳回DCS，用于進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊。 

日益增長的自動化需求不*需要先進(jìn)的硬件，還需要與之匹配的軟件。 CMET由一個配置界面和一個運(yùn)行界面組成，可以安裝在單獨(dú)的PC上。

主要特點(diǎn) 

• 易于使用的模塊化設(shè)計(jì)

• **的配置界面和運(yùn)行界面  Watchdog信號

• 作為應(yīng)用程序或服務(wù)自動啟動

• 支持*常見的通訊協(xié)議

• OPC客戶端和服務(wù)器功能

• 不同的觸發(fā)模式

• 定制化的的日志文件

• 基于網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器的趨勢圖

• 在線偏差校正

CMET設(shè)置界面——設(shè)置模塊分為四組

CMET設(shè)置 

該界面采用模塊化概念，包含了所有必要功能，可以為不同的應(yīng)用場景設(shè) 置，例如，從簡單的連續(xù)測量，到非常復(fù)雜的批次處理，以及不斷變化的 產(chǎn)品（配方）。通過使用外部觸發(fā)信號，DCS可以完全控制儀器。 

光譜儀設(shè)置：定義通用測量點(diǎn)及其測量參數(shù) 

產(chǎn)品設(shè)置：創(chuàng)建產(chǎn)品，調(diào)整特定測量參數(shù)并增加定標(biāo)模型。自定義存儲選項(xiàng)，并定   義附加的產(chǎn)品輸入變量（例如，批次ID）。

I/O設(shè)置：設(shè)置不同的通訊協(xié)議（可以同時使用不同的協(xié)議） 

場景設(shè)置 ：給產(chǎn)品分配一個特定的測量點(diǎn)，并定義啟動觸發(fā)和輸出信號。

CMET Runtime 

Runtime環(huán)境用于兩大任務(wù)：  背景測量與管理  持續(xù)測量和過程監(jiān)測 

Runtime可以輕松地配置加載并自動啟動一個 特定流程，這在停電時十分便利。CMET除了提 供定量和定性結(jié)果外，還可提供一系列信號，例 如，當(dāng)前正在運(yùn)行哪個測量通道、化學(xué)計(jì)量報警 或測量點(diǎn)的實(shí)際光強(qiáng)度。

Runtime服務(wù)

CMET Runtime——用于 輕松管理復(fù)雜場景的用 戶界面

除了自動啟動之外，CMET Runtime還可以作為 Windows服務(wù)啟動，以確保在沒有用戶登錄的 情況下，實(shí)現(xiàn)全部功能。這對于不打算進(jìn)行登錄 的服務(wù)器安裝而言，大有幫助。

CMET 趨勢圖 為了監(jiān)測**數(shù)據(jù)，CMET Runtime具有一個基 于網(wǎng)絡(luò)（包括網(wǎng)絡(luò)訪問）的趨勢圖。

實(shí)時部分：   使用每個產(chǎn)品的自動更新趨勢圖，監(jiān)測目前的 測量結(jié)果。 

歷史部分：   瀏覽您的數(shù)據(jù)庫儲存的測量結(jié)果的歷史記錄。 

CMET 趨勢圖——在趨勢 圖或表格視圖下監(jiān)測 測量結(jié)果

通訊協(xié)議 

CMET支持各種通訊協(xié)議，布魯克提供的通訊協(xié)議如下:

OPC DA - 客戶端和服務(wù)器功能

Analog Communication (4 – 20 mA) - ADAM 單元 - 模擬卡（需要PCI插槽）

現(xiàn)場總線 (PCIe 卡) - Profibus DP (Connection: RS485)

現(xiàn)場總線（軟件解決方案）  - 以太網(wǎng)TCP/IP（例如，Modbus TCP、 Allen-Bradley、西門子工業(yè)以太網(wǎng)）

現(xiàn) 場總線（外部模塊）-  odbus RTU 或 TCP (Connection: RS485,  RS232 或 RJ45) - Profibus (Connection: RS485)  - ProfiNET (Connection: RJ45)

現(xiàn)場總線 （儀器解決方案，* MATRIX-F II) - Modbus (Connection: RS485, RS232,   以太網(wǎng)TCP/IP)

CMET 趨勢圖——圖為顯示 了所有測量點(diǎn)的**測量 結(jié)果的實(shí)時表格

應(yīng)用：化工、聚合物和制藥

過程分析技術(shù)（PAT）旨在控制生產(chǎn)過程，以確保*終產(chǎn)品質(zhì)量合格。在化工、石化和制藥行業(yè)，從*終產(chǎn)品到生產(chǎn)環(huán)節(jié)質(zhì)量過程監(jiān)測是行業(yè)公認(rèn)的需求。通過FT-NIR光譜技術(shù)可實(shí)現(xiàn)原材料、中間體和*終產(chǎn)品的實(shí)時分析。

案例：化工行業(yè) 

在化工行業(yè)，F(xiàn)T-NIR技術(shù)得到了**應(yīng)用。*需數(shù)秒就可測得高信息量的 近紅外光譜，同時對多種不同的組分和系統(tǒng)指標(biāo)進(jìn)行高精度定量分析。 典型案例：監(jiān)測基礎(chǔ)化學(xué)品的合成、蒸餾、精餾過程，以及化學(xué)反應(yīng)的終 點(diǎn)測定。 

案例：半導(dǎo)體生產(chǎn) 

在如今半導(dǎo)體競爭和供需緊張的環(huán)境下，優(yōu)化生產(chǎn)過程，盡可能地減少不 合格品產(chǎn)生，是保持競爭力不可或缺的條件。 近紅外分析技術(shù)與多參量分析技術(shù)相結(jié)合，是半導(dǎo)體各種生產(chǎn)環(huán)節(jié)實(shí)現(xiàn)這 一目標(biāo)的理想在線測量工具。在半導(dǎo)體典型生產(chǎn)環(huán)節(jié)，比如清潔、蝕刻、 光刻膠顯影以及光刻膠剝離，可采用FT-NIR技術(shù)進(jìn)行過程監(jiān)測。

案例：聚合物行業(yè) 

在聚合物生產(chǎn)過程中，典型測量參數(shù)有密度、熔融指數(shù)、羥值或游離單體 含量。 況。 FT-NIR光譜技術(shù)可以測量聚合物關(guān)鍵生產(chǎn)環(huán)節(jié)中聚乙烯的生產(chǎn)情 該技術(shù)還可以測定聚合的當(dāng)前狀態(tài)，以及擠出前后的產(chǎn)品質(zhì)量。另一個典 型的應(yīng)用案例，可實(shí)現(xiàn)橡膠乙烯基和苯乙烯含量的在線分析。

案例：石化精煉過程 

從石油中提煉汽油是又一個可以使用FT-NIR技術(shù)的復(fù)雜過程，用來優(yōu)化 和控制不同的加工過程。**個關(guān)鍵工藝是原油的分餾，會產(chǎn)生輕石腦油 和重石腦油以及柴油等產(chǎn)物，這些產(chǎn)物可采用FT-NIR技術(shù)進(jìn)行分析。 為了獲得**性能，*終的汽油會加入多種添加劑。FT-NIR技術(shù)監(jiān)測的 典型質(zhì)量參數(shù)：研究法辛烷值或馬達(dá)法辛烷值（RON和MON）和密度，以 及PIONA分析。此外，F(xiàn)T-NIR技術(shù)還被**用于汽油和柴油調(diào)和過程。

案例：制藥片劑生產(chǎn)  

制藥行業(yè)的片劑生產(chǎn)過程包括：混合、制粒、干 燥、壓片和包衣。這些不同的加工步驟可以通過 MATRIX-F II聯(lián)用漫反射探頭或傳感器頭進(jìn)行在 線監(jiān)測，以確保產(chǎn)品安全，并降低生產(chǎn)批次不合 格的風(fēng)險。

安裝于流化床反應(yīng)器的在線探頭，以漫反射方式檢測。

反射探頭（照片來 Solvias AG）。

應(yīng)用：農(nóng)業(yè)、食品和飼料

在農(nóng)業(yè)、食品和飼料行業(yè)，從二十世紀(jì)七十年代首臺商用近紅外谷物分析儀，到如今現(xiàn)代化的FT-NIR光譜儀，近紅外光譜技術(shù)在實(shí)驗(yàn)室得到了快速的應(yīng)用。然而，大多食品生產(chǎn)廠家仍在使用單變量傳感器來監(jiān)測生產(chǎn)過程，比如溫度傳感器，流

速傳感器、pH傳感器等。不過這些參數(shù)往往與食品質(zhì)量評估不相關(guān)。

FT-NIR光譜儀可以提供材料在各個生產(chǎn)階段的信息，包括定性判別、一致性評價和化學(xué)成分定量。尤其對于主要的關(guān)注成分，例如脂肪，蛋白質(zhì)和水分或總固形物，都可以同時進(jìn)行分析。與傳統(tǒng)的分析方法相比，具有很大的成本優(yōu)勢。

FT-NIR分析技術(shù)的典型應(yīng)用領(lǐng)域：

1. 飼料和飼料成分

2. 油籽和谷物

3. 食用油和煎炸油

4. 乳制品

5. 生物燃料

6. 甘蔗和甜菜

案例：奶粉生產(chǎn) 

噴霧干燥是奶粉生產(chǎn)的一個關(guān)鍵過程，具有高能耗的特點(diǎn)。通過在儲罐、噴 霧干燥器的進(jìn)料口以及流化床干燥器的粉末出口等位置安裝FT-NIR傳感 器探頭，就可以監(jiān)測和連續(xù)跟蹤水分含量。 利用近紅外技術(shù)有效控制干燥效率，以實(shí)現(xiàn)目標(biāo)水分含量值，不*降低能 耗，縮短停機(jī)時間、減少不合格批次，還可提高過程的總產(chǎn)能。 

案例：油籽加工 

根據(jù)油的類型，在機(jī)械或溶劑提取工序前，對種子/果實(shí)進(jìn)行冷壓或熱處 理。利用在線FT-NIR技術(shù)，對進(jìn)入提取過程的物料以及壓榨后的油餅水分 和含油量進(jìn)行監(jiān)測，可以快速高效地了解生產(chǎn)效率。 對提取出的原油可直接進(jìn)行組分分析，比如游離脂肪酸、磷脂或蠟，以獲得 **生產(chǎn)條件，用于后續(xù)的精煉過程，可避免不合格生產(chǎn)批次的高額返工成本。

案例：煎炸油監(jiān)測 

在高溫下，連續(xù)重復(fù)使用煎炸油脂會發(fā)生一系 列降解。 越來越多的游離脂肪酸、總極性成分和聚合三 酰基甘油的降解會導(dǎo)致感官品質(zhì)的下降，并對健康造成潛在危害。 采用FT-NIR光譜分析技術(shù)進(jìn)行在線監(jiān)測煎炸過 程，現(xiàn)已成為一項(xiàng)公認(rèn)的煎炸油質(zhì)量評估方法。 它有助于優(yōu)化煎炸油脂更換時間，從而經(jīng)濟(jì)高 效地運(yùn)行生產(chǎn)線，確保消費(fèi)者的安全。 

案例：黃油生產(chǎn)監(jiān)測 

從經(jīng)濟(jì)的角度來看，黃油水含量盡可能地保持 在法定限16%很重要，因?yàn)樗赛S油當(dāng)然要便 宜得多。使用FT-NIR光譜分析技術(shù)監(jiān)測水分和鹽 含量，用標(biāo)準(zhǔn)法蘭可以將反射探頭或傳感器探頭 安裝在黃油生產(chǎn)線中。 考慮到黃油的高產(chǎn)量和24/7全天候運(yùn)行，通常 FT-NIR技術(shù)可以在幾個月內(nèi)就能收回投資。

安裝在傳送帶上的傳感器 探頭，用于連續(xù)分析豆粕。

用于非接觸式測量的傳感 器頭。

質(zhì)量可靠 

現(xiàn)如今，受監(jiān)管大環(huán)境的影響，儀器必須遵守各種監(jiān)管要求。布魯克提供 **的系統(tǒng)驗(yàn)證服務(wù)，提供驗(yàn)證文件和審查程序，以系統(tǒng)性和極低成本的 方式遵循當(dāng)前法規(guī)要求。 

合格的硬件  

布魯克FT-NIR光譜儀配備了自動濾光片輪，該濾光片輪內(nèi)置于測試儀器， 包括用于測試儀器性能的標(biāo)準(zhǔn)品和濾光器。OPUS軟件包含OVP（光學(xué)驗(yàn) 證程序），這是一個儀器測試程序，它使用濾光輪中的標(biāo)準(zhǔn)品執(zhí)行一系列 性能測試。 該程序可以評估儀器性能，并確定光譜儀的操作是否符合規(guī)范。此外，布 魯克的Validation Program（驗(yàn)證程序）為用戶提供了一套完整的認(rèn)證程 序，滿足USP和Ph.Eur等認(rèn)證要求。OPUS支持自定義設(shè)置，以滿足您個 性化的認(rèn)證要求，并且狀態(tài)始終顯示在用戶面前。 

完全符合GMP和21 CFR Part 11 要求 

OPUS光譜軟件配備一套合規(guī)認(rèn)證程序，為必須符合GMP標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)室 提供協(xié)助。不同用戶管理具有多個安全級別，不可編輯數(shù)據(jù)文件和完善的 審計(jì)跟蹤等，是這款完善的光譜分析軟件的眾多功能的一部分。OPUS完 全支持FDA頒布的21 CFR第11法規(guī)（電子記錄、電子簽名）的要求。

過程軟件解決方案

用于過程工業(yè)的所有布魯克光學(xué)軟件產(chǎn)品，包括 OPUS，CMET和反應(yīng)監(jiān)測軟件，這些軟件都經(jīng)過 了充分的驗(yàn)證，可以安全可靠地符合客戶預(yù)期用 途的要求。 

資質(zhì)證明 

布魯克光學(xué)的產(chǎn)品和服務(wù)符合所有質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，比 如 ISO 9001和 ISO 13485，成功通過了多家制 藥公司的審核，并被視為一個硬件和軟件獲得全 面認(rèn)可的供應(yīng)商。 每位客戶都會收到儀器和配件的全套證書。

 愛護(hù)環(huán)境

為了證明布魯克對客戶的生態(tài)和環(huán)境承諾，我們 還通過了ISO 14001認(rèn)證。 此外，我們?yōu)闇p少能源使用、進(jìn)而減少溫室氣體 排放進(jìn)行不懈努力，實(shí)現(xiàn)了包括能源效率、能源 安全、能源使用和能源消耗方面的持續(xù)改進(jìn)，因 而獲得了ISO 50001認(rèn)證。

您成功道路上的合作伙伴

布魯克深知客戶支持不**意味著安裝、維護(hù) 和修理設(shè)備，我們承諾為客戶提供詳盡且專業(yè)技 術(shù)知識，并幫助客戶理解我們的系統(tǒng)的方方面 面。我們所從事的業(yè)務(wù)不**是銷售分析儀器， 還包括完整解決方案的應(yīng)用和支持工作。從儀 器配置、演示和安裝*匹配客戶應(yīng)用需求的儀 器，到培訓(xùn)儀器操作者，并持續(xù)提供技術(shù)支持， 我們力求在每一個細(xì)節(jié)上都能讓客戶滿意。 我們的儀器致力于讓您多年免維護(hù)運(yùn)行，一旦發(fā) 生問題，布魯克遍布全球的公司和**隨時都 能快速響應(yīng)您的需求。專業(yè)的安裝和高水準(zhǔn)的 售后服務(wù)是布魯克對每一位客戶的承諾。我們可 以按照工時、配件或服務(wù)合同為您提供服務(wù)。

現(xiàn)場拜訪

當(dāng)我們無法遠(yuǎn)程診斷您的問題時，或者當(dāng)您只是需要立即響應(yīng)，我們遍布 全球的現(xiàn)場工程師將為您提供快速的本地支持。我們也意識到，時間就是 金錢。我們的及時服務(wù)升級程序，可以讓您高枕無憂：當(dāng)您需要我們時， 布魯克工程師就會到達(dá)現(xiàn)場。

預(yù)防性維護(hù) 

為了**限度地減少意外停機(jī)、降低成本和控制風(fēng)險，計(jì)劃性維護(hù)仍然是 **。在現(xiàn)場計(jì)劃維護(hù)期間，經(jīng)布魯克培訓(xùn)上崗的工程師將**檢查您的 系統(tǒng)的安裝、校準(zhǔn)和潔凈情況，并核查其性能是否符合技術(shù)規(guī)范。他們將 按照一份詳盡的維護(hù)清單維護(hù)，確保您的系統(tǒng)正確且安全地運(yùn)行。

合同服務(wù) 

布魯克提供一系列合同，滿足您的具體需求。我們非常樂意根據(jù)您的具體 情況，為您量身定制合同，來滿足您****的需求。布魯克合同的宗旨 是，在幫助您控制成本的同時，本著合作精神，為您帶來超值服務(wù)，** 限度地延長儀器正常運(yùn)行時間。我們的合同內(nèi)容通常包括預(yù)防性維護(hù)，并 為您的儀器運(yùn)行提供出色的現(xiàn)場響應(yīng)。

布魯克FT-NIR產(chǎn)品系列

FT-NIR 化學(xué)品的特點(diǎn)，使其成為一種定量分析和定性分析的快速可靠方法。 技術(shù)是一種可替代傳統(tǒng)耗時濕化學(xué)法和色譜分析技術(shù)的實(shí)用分析方法。該方法具有無損、無需樣品制備，不使用危險 近紅外是快速鑒定原材料的理想分析技術(shù)，也是一種可準(zhǔn)確定量分析多組分的強(qiáng)大分析工具。其基于光纖探頭技術(shù)的在線 監(jiān)測能力，可以幫助客戶深入了解生產(chǎn)過程。 布魯克FT-NIR產(chǎn)品線包括實(shí)驗(yàn)室和旁線應(yīng)用的TANGO和MPA II光譜儀，以及用于過程控制的MATRIX-F II系列光譜儀。

TANGO 更快速、更簡單、更安全——借助TANGO光譜儀，可加快您的近紅外分析 速度。TANGO完全滿足用戶對適用于工業(yè)用途的FT-NIR光譜儀的要求： 堅(jiān)固耐用、**度高，操作簡單易懂。

MPA II 當(dāng)解決一個具體的分析任務(wù)時，選擇**的測樣方法至關(guān)重要。借助 MPA II，您可以有一套完整的解決方案，它不*適用于日常QA/QC工作， 還適用于復(fù)雜的方法開發(fā)研究工作 。

MATRIX-F II 借助MATRIX-F II傅立葉變換近紅外光譜儀，采用接觸式或非接觸式測樣 方式，您可以直接監(jiān)測反應(yīng)釜、管道中或傳送帶上的樣品。這將有助于您 增進(jìn)對生產(chǎn)的了解，更好地控制生產(chǎn)過程。

pH、傳感器等。不過這些參數(shù)往往與食品質(zhì)量評估

在農(nóng)業(yè)、食品和飼料行業(yè)，從二十世紀(jì)七十年代首臺商用近紅 外谷物分析儀，到如今現(xiàn)代化的FT-NIR光譜儀，近紅外光譜 技術(shù)在實(shí)驗(yàn)室得到了快速的應(yīng)用。然而，大多食品生產(chǎn)廠家仍 在使用單變量傳感器來監(jiān)測生產(chǎn)過程，比如溫度傳感器，流 速傳感器、 不相關(guān)。

過程分析技術(shù)（PAT）旨在控制生產(chǎn)過程，以確保*終產(chǎn)品質(zhì) 量合格。在化工、石化和制藥行業(yè)，從*終產(chǎn)品到生產(chǎn)環(huán)節(jié)質(zhì) 量過程監(jiān)測是行業(yè)公認(rèn)的需求。通過FT-NIR光譜技術(shù)可實(shí)現(xiàn) 原材料、中間體和*終產(chǎn)品的實(shí)時分析。

過程分析技術(shù)（PAT）旨在控制生產(chǎn)過程，以確保*終產(chǎn)品質(zhì) 量合格。在化工、石化和制藥行業(yè)，從*終產(chǎn)品到生產(chǎn)環(huán)節(jié)質(zhì) 量過程監(jiān)測是行業(yè)公認(rèn)的需求。通過FT-NIR光譜技術(shù)可實(shí)現(xiàn) 原材料、中間體和*終產(chǎn)品的實(shí)時分析。

過程分析技術(shù)（PAT）旨在控制生產(chǎn)過程，以確保*終產(chǎn)品質(zhì) 量合格。在化工、石化和制藥行業(yè)，從*終產(chǎn)品到生產(chǎn)環(huán)節(jié)質(zhì) 量過程監(jiān)測是行業(yè)公認(rèn)的需求。通過FT-NIR光譜技術(shù)可實(shí)現(xiàn) 原材料、中間體和*終產(chǎn)品的實(shí)時分析。

標(biāo)參數(shù)，以 便于對反應(yīng)進(jìn)行監(jiān) 測和控制檢

過程 的重要指標(biāo)參數(shù)，以 便于對反應(yīng)進(jìn)行監(jiān) 測和控制標(biāo)參數(shù)，以 便于對反應(yīng)進(jìn)行監(jiān) 測和控制